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題 名:
A Method of Measuring TEC at Low Elevation Angles:低仰角測量電離層總電子密度的方法
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:2 1995.06[民84.06]
- 頁 次:
頁337-346
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3 1978.02[民67.02]
- 頁 次:
頁17-25
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23 1978.02[民67.02]
- 頁 次:
頁121-135
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2 1976.10[民65.10]
- 頁 次:
頁153-159