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題 名:
砷化鎵異質介面雙極性電晶體元件隔離之離子植入分析研究:Design of Experiment on GaAs HBT Device Ion Implantation Isolation
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29 2003.12[民92.12]
- 頁 次:
頁67-81
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題 名: