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以改良式電荷汲引技術量測High-κ金氧半電晶體之邊緣陷阱縱深分布與通道接面可靠度分析:
呂君章 蔡輔桓 張廖貴術
電子月刊
18:1=198 2012.01[民101.01]
頁136-153
TCI引用統計