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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:2 1999.04[民88.04]
- 頁 次:
頁277-283
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題 名:
半導體元件可靠度簡介--熱載子效應:Semiconductor Device Reliability--Hot Carrier Effect
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
62 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁53-58
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2 1997.06[民86.06]
- 頁 次:
頁193-204
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38:9 2002.09[民91.09]
- 頁 次:
頁80-85
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:10=123 民94.10
- 頁 次:
頁189-196
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:4 民94.11
- 頁 次:
頁31-36
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17 民85.11
- 頁 次:
頁25-35
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
99 2016.12[民105.12]
- 頁 次:
頁8
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18:1=198 2012.01[民101.01]
- 頁 次:
頁136-153
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
37:1 2011.02[民100.02]
- 頁 次:
頁85-93
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35:1 2010.05[民99.05]
- 頁 次:
頁39-49
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題 名:
低溫多晶矽薄膜電晶體在顯示器系統的可靠度行為:Reliability Behavior of Low-Temperature Poly-Si TFT for Display Systems
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:7=156 2008.07[民97.07]
- 頁 次:
頁111-121
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題 名:
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題 名:
具有緩衝層之氮化矽覆蓋形變矽通道(Strained Si channel)互補式金氧半(CMOS)元件之特性影響與相關可靠度分析:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:9=146 2007.09[民96.09]
- 頁 次:
頁152-161
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:10=147 2007.10[民96.10]
- 頁 次:
頁171-179
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:5=154 2008.05[民97.05]
- 頁 次:
頁151-162