查詢結果
檢索結果筆數(7)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
-
- 題 名:
Fast Deterministic Test Pattern Generation for Scan-Based BIST Environment:掃描植入式自我測試環境之快速特定測試向量產生器
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁365-376
- 題 名:
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26 1994.02[民83.02]
- 頁 次:
頁9-16
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
37 1995.03[民84.03]
- 頁 次:
頁20-28
-
- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
165 民94.07
- 頁 次:
頁64-65+68-69
-
- 題 名:
Diagnosibility of Nonlinear Fault Diagnosis with Multiple Test Vectors:利用多重測試向量來從事非線性線路偵錯之診斷率
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9:1 1986.01[民75.01]
- 頁 次:
頁51-57
- 題 名:
-
- 題 名:
應用在內建式自我測試的特定序列與類隨機向量產生器:Deterministic and Pseudo-Random Pattern Generator for BIST
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:10=171 2009.10[民98.10]
- 頁 次:
頁123-133
- 題 名:
-
- 題 名:
以嶄新之隨機存取掃描測試架構減少峰值功率,測試資料與時間:A Novel Random Access Scan for Reducing Peak Power, Test Data and Time
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25 2007.12[民96.12]
- 頁 次:
頁(附)15-(附)20
- 題 名: