刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
建立以ANFIS模糊推論系統為基礎之電容瓷片外觀瑕疵分類與製程管制模式:Construction of ANFIS Based Fuzzy Inference System for Surface Defect Classfication and Process Control Models of SBL Chips
林宏達 陳育洺 Lin, Hong-dar; Chen, Yu-ming;
朝陽學報
10 2005.06[民94.06]
頁1-41
TCI引用統計