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晶圓探針測試之溫度影響探討及改善方法:An Investigation in Temperature Effects with an Improvement Approach of Wafer Probing Test
王政龍 籃山明 Wang, Cheng-lung; Lan, Shan-ming;
先進工程學刊
7:3 2012.07[民101.07]
頁109-114
TCI引用統計