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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9 2003.06[民92.06]
- 頁 次:
頁85-94
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18:10=207 2012.10[民101.10]
- 頁 次:
頁121-129
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
154 2004.08[民93.08]
- 頁 次:
頁74-75+78+80-82
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
257 2004.08[民93.08]
- 頁 次:
頁185-194
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20 2008.12[民97.12]
- 頁 次:
頁19-30
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題 名:
探針接觸特性對於晶圓良率測試之研究:The Effect of Probing Contact on Chip Test
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:2 2011.04[民100.04]
- 頁 次:
頁103-109
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
272 2010.03[民99.03]
- 頁 次:
頁92-101
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:3 2012.07[民101.07]
- 頁 次:
頁109-114
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23 2009.06[民98.06]
- 頁 次:
頁93-100
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
318 2009.09[民98.09]
- 頁 次:
頁3-12
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21 2009.05[民98.05]
- 頁 次:
頁35-43
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
282 民95.09
- 頁 次:
頁4-13
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
262 2007.09[民96.09]
- 頁 次:
頁66-75
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3:3 2015.03[民104.03]
- 頁 次:
頁39-49
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:6 2018.12[民107.12]
- 頁 次:
頁361-379
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題 名:
晶圓測試探針卡設計與製造:Design and Manufacture of Wafer Test Probe Card
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
459 2021.06[民110.06]
- 頁 次:
頁16-25
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題 名:
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題 名:
雷射誘發金屬化3D電路製造技術與應用:Laser-induced Metallization for 3D Circuits and Its Applications
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
475 2022.10[民111.10]
- 頁 次:
頁39-44
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題 名:
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題 名:
高密度探針卡設計與製造:Design and Manufacturing of Ultra-fine-pitch Probe Card
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
471 2022.06[民111.06]
- 頁 次:
頁13-21
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題 名: