刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
IEEE 1500標準測試封套設計與驗證測試方法:
高琮評 邱畊銘 李建模
零組件雜誌
189 2007.07[民96.07]
頁80-82+84-86
TCI引用統計