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1
系統晶片之測試:
吳明學
電子月刊
14:10=159 2008.10[民97.10]
頁138-144
TCI引用統計
2
IEEE 1500標準測試封套設計與驗證測試方法:
高琮評 邱畊銘 李建模
零組件雜誌
189 2007.07[民96.07]
頁80-82+84-86