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使用尼曼A型分配於積體電路晶圓缺陷管制圖之經濟性設計:An Economic Design of the Neyman Type-A Based Control Chartsfor Clustered Defects in Ic Fabrication
唐麗英 謝季亨 Tong, Lee-ing; Hsieh, Jih-heng;
工業工程學刊
15:6 1998.11[民87.11]
頁615-622
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