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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁43-48
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2 2001.06[民90.06]
- 頁 次:
頁1-14
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
181 2002.01[民91.01]
- 頁 次:
頁73-79
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:3 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁147-155
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題 名:
飛行時間二次離子質譜儀的原理與應用:The Principle and Applications of Secondary Ion Mass Spectrometer
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:3=131 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁14-26
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:6=83 2002.06[民91.06]
- 頁 次:
頁146-153
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題 名:
Incorporation of Mg in GaN Grown by Metal-Organic Chemical Vapor Deposition:有機金屬氣相化學沈積鎂摻雜之氮化鎵
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:3 2000.08[民89.08]
- 頁 次:
頁227-231
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:9=62 2000.09[民89.09]
- 頁 次:
頁138-149
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:3 1989.08[民78.08]
- 頁 次:
頁25-32
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題 名:
掃描式電阻式顯微鏡在IC產業的應用:Application of Scanning Spreading Resistance Microscope for IC Industry
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:3=191 2012.12[民101.12]
- 頁 次:
頁23-28
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題 名:
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題 名:
飛行時間二次離子質譜儀在平面顯示器的應用:TOF-SIMS Applications in Flat Panel Display
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:1=141 2004.08[民93.08]
- 頁 次:
頁14-20
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題 名: