刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
Interdisciplinary Characterization of Sandwiched SiGe thin Layers Grown by Molecular Beam Epitaxy:以分子束磊晶成長之夾層矽鍺薄膜之特性
Feng,Z. C.; Watt,F.; Lee,K. K.; Wee,A. T. S.; Hng,H. H.; Arbet-engels,V.; Karunasiri,R. P. G.; Wang,K. L.; Williams,K. P. J.;
Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering
2:1 1995.02[民84.02]
頁25-28
TCI引用統計