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題 名:
Test Data and Test Time Reduction for LOS Transition Test in Multi-Mode Segmented Scan Architecture:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:2 2008.04[民97.04]
- 頁 次:
頁71-78
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2012 2012.06[民101.06]
- 頁 次:
頁131-146
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2012 2012.06[民101.06]
- 頁 次:
頁213-227
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2012 2012.06[民101.06]
- 頁 次:
頁228-243