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題 名:
具高電遷移壽命的奈米雙晶銅導線用於重新佈線層:High Electromigration Lifetimes of Nanotwinned Cu Redistribution Lines
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
63:2=246 2019.06[民108.06]
- 頁 次:
頁72-77
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題 名: