查詢結果
檢索結果筆數(6)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
-
-
題 名:
Back-end-of-line Defect Analysis for Rnv8T Nonvolatile SRAM:針對Rnv8T非揮發性靜態隨機存取記憶體於後段製程中之錯誤缺陷分析
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
160 2014.12[民103.12]
- 頁 次:
頁68-73
-
題 名:
-
-
題 名:
Cross-die BISR Design for the 3D-stacked Wide-I/O DRAM:三維堆疊Wide-I/O動態隨機存取記憶體之跨層自我修復架構設計
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
160 2014.12[民103.12]
- 頁 次:
頁85-87
-
題 名:
-
- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
154 2013.12[民102.12]
- 頁 次:
頁5-10
-
- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
165 2016.03[民105.03]
- 頁 次:
頁11-15
-
- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16 2010.06[民99.06]
- 頁 次:
頁61+63-82
-
- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
1 2023.03[民112.03]
- 頁 次:
頁1-51