查詢結果
檢索結果筆數(5)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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題 名:
Test Slice Difference Technique for Low-Transition Test Data Compression:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:2 2012.06[民101.06]
- 頁 次:
頁157-166
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:4 2011.06[民100.06]
- 頁 次:
頁515-527
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題 名:
An Efficient Algorithm to Selectively Gate Scan Cells for Capture Power Reduction:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:1 2011.03[民100.03]
- 頁 次:
頁39-48
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題 名:
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題 名:
Optimal Test Access Mechanism (TAM) for Reducing Test Application Time of Core-Based SOCs:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:3 2010.09[民99.09]
- 頁 次:
頁305-314
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題 名:
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題 名:
A Novel Reseedling Mechanism for Improving Pseudo-Random Testing of VLSI Circuits:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:2 2008.06[民97.06]
- 頁 次:
頁175-184
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題 名: