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Impacts of SiN Deposition Conditions on the Flicker Noise Characteristics of Strained N-Channel Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors:
Lu, Ching-sen; Huang, Tiao-yuan; Lin, Horng-chih;
International Journal of Electrical Engineering
16:4 2009.08[民98.08]
頁269-276
TCI引用統計