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可測試設計技術:Design for Test
陳繼展 林森田 何榮基 李嘉仁 劉威廷 蘇錦榮 羅崑崙 張永嘉 Chen, Ji-jan; Lin, Shen-tien; Ho, Jung-chi; Lee, Chia-jen; Liu, Wei-ting; Su, Chin-lung; Luo, Kun-lun; Chang, Yeong-jar;
系統晶片
1 民93.10
頁46-60
TCI引用統計