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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:1=147 2005.08[民94.08]
- 頁 次:
頁87-91
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題 名:
原子力顯微儀的原理(上):An Introduction to the Principle of Atomic Force Microscope (Ⅰ)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2=148 民94.10
- 頁 次:
頁46-57
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題 名:
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題 名:
商用原子力顯微儀的評估方法:A Quick Method of Evaluation for Commercial Atomic Force Microscope
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2=148 民94.10
- 頁 次:
頁58-65
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題 名:
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題 名:
原子力顯微儀的原理(下):An Introduction to the Principle of Atomic Force Microscope (Ⅱ)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:3=149 民94.12
- 頁 次:
頁67-77
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:5=151 民95.04
- 頁 次:
頁83-93
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:6=152 民95.06
- 頁 次:
頁58-68
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:2=154 民95.10
- 頁 次:
頁68-72