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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:6 1998.11[民87.11]
- 頁 次:
頁559-571
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題 名:
A Study on the Process Capability Index Cp for Correlated Data:相關性資料下製程能力指標Cp之研究
- 作者:
- 書刊名:
Proceedings of the National Science Council : Part A, Physical Science and Engineering
- 卷 期:
23:2 1999.03[民88.03]
- 頁 次:
頁319-329
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題 名:
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題 名:
應用機器視覺系統於表面瑕疵分類之研究:A Study of Using Machine Vision System for Surface Defects Classification
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:4 1999.07[民88.07]
- 頁 次:
頁443-453
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:1 1999.01[民88.01]
- 頁 次:
頁109-116
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:3 1996.07[民85.07]
- 頁 次:
頁283-294
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:5 2003.09[民92.09]
- 頁 次:
頁465-471
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9:2 民91.12
- 頁 次:
頁1-17
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題 名:
印刷電路板製程中完稿底片尺寸變異之評估:The Evaluation of Artwork Dimensional Variance for PCB Manufacturing Process
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:1 民90.06
- 頁 次:
頁85-105
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:1 民88.06
- 頁 次:
頁157-182
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題 名:
羅吉斯迴歸在半導體製程分析上之應用:An Application of Logistic Regression Method for Semiconductor Process Analysis
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁91-105
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:2 民93.06
- 頁 次:
頁85-95
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:1 2014.03[民103.03]
- 頁 次:
頁49-55
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:6 2013.12[民102.12]
- 頁 次:
頁599-608
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:2 2014.12[民103.12]
- 頁 次:
頁1-13
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題 名:
動態X光影像強化與瑕疵分類之研究:Study of Dynamic X-Ray Image Enhancement and Defects Classification
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁409-421
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:4 2009.08[民98.08]
- 頁 次:
頁233-243
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題 名:
評估並建立適合高齡者之浴廁設計:Evaluation and Establishment of Bathroom Design Guidelines for the Elderly
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18:1 2016.10[民105.10]
- 頁 次:
頁9-31
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題 名: