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題 名:
X-ray Reflectivity and Total-Reflection Fluorescence Analysis of Amorphous SiO₂/Ta₂O₅ Thin Films:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
42:5 2004.10[民93.10]
- 頁 次:
頁607-618
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題 名: