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題 名:
Back-end-of-line Defect Analysis for Rnv8T Nonvolatile SRAM:針對Rnv8T非揮發性靜態隨機存取記憶體於後段製程中之錯誤缺陷分析
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
160 2014.12[民103.12]
- 頁 次:
頁68-73
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題 名:
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題 名:
Cross-die BISR Design for the 3D-stacked Wide-I/O DRAM:三維堆疊Wide-I/O動態隨機存取記憶體之跨層自我修復架構設計
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
160 2014.12[民103.12]
- 頁 次:
頁85-87
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
154 2013.12[民102.12]
- 頁 次:
頁5-10
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
165 2016.03[民105.03]
- 頁 次:
頁11-15
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9 民74.09
- 頁 次:
頁79-97
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
1 2023.03[民112.03]
- 頁 次:
頁1-51
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30 2022.12[民111.12]
- 頁 次:
頁135-177