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題 名:
Effect of Improved Tracking for Atomic Force Microscope on Piezo Nonlinear Behavior:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:3 2015.05[民104.05]
- 頁 次:
頁747-761
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題 名:
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題 名:
A Survey of Methods Used to Control Piezoelectric Tube Scanners in High-Speed AFM Imaging:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:4 2018.07[民107.07]
- 頁 次:
頁1379-1399
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題 名: