刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
半導體測試專欄--如何降低測試成本及達成量產目標藍光雷射SoC測試大不易:
Blair,Do; Gunji,Keita;
新電子科技
224 2004.11[民93.11]
頁90-96
TCI引用統計