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Determination of Depth Profiles of Ni₈₀Fe₂₀ Epifilms on Mo Buffered Al₂O₃Substrates with and without a Co Interlayer by Polarized Neutron and X-ray Reflectivity:
Yu,Kuan-li; Lee,Chih-hao; Huang,J. C. A.; Su,Hui-chia; Felcher,G. P.;
Chinese Journal of Physics
40:6 2002.12[民91.12]
頁616-623
TCI引用統計