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電線短路熔痕以二次離子質譜儀(SIMS)作表面分析之鑑識方法:Analysis of Fire Investigation for Short Circuit by Applying Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS)
王靜婷 陳火炎 江金龍 Wang, Ji-ting; Chang, Ho-an; Chiung, Chin-lung;
弘光學報
38 2001.11[民90.11]
頁43-48
TCI引用統計