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面內低掠角X光繞射於二維材料晶體分析之應用:The Application of In-plane Grazing Incidence X-ray Diffraction to the Crystal Analysis of 2-dimensional Material
王尉霖 丘坤安 陳維鈞 蕭健男 陳峰志 Wang, Wei-lin; Chiu, Kun-an; Chen, Wei-chun; Hsiao, Chien-nan; Chen, Fong-zhi;
科儀新知
236 2023.09[民112.09]
頁62-73
TCI引用統計