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應用光調制反射技術研究砷化鎵、二硒化鉬、矽及二化釕半導體之特性:Mircrocomputer-Controlled Measurements of Photoreflectance Spectra of Semiconductors
陳自雄 Chen, Tzyh-shyong;
光武學報
23 1998.11[民87.11]
頁41-70
TCI引用統計