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JTAG Boundary Scan測試結構及在ARM7TDMI微處理器中的應用:JTAG Boundary Scan Architecture and Using in ARM7TDMI Microprocessor
魏樹銘 Wei, Shu-ming;
電腦與通訊
71 1998.07[民87.07]
頁49-54
TCI引用統計