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題 名:
寬輸入輸出動態隨機存取記憶體之內建自我測試架構設計:Built-In Self-Test (BIST) Design for Wide I/O DRAM
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
157 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁70-78
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
154 2013.12[民102.12]
- 頁 次:
頁5-10
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
141 2011.10[民100.10]
- 頁 次:
頁67-74
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題 名:
多媒體平臺晶片之低功率實現方法:Low Power Methodology Development for Multimedia Platform
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
132 2010.04[民99.04]
- 頁 次:
頁103-113
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題 名:
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題 名:
以嶄新之隨機存取掃描測試架構減少峰值功率,測試資料與時間:A Novel Random Access Scan for Reducing Peak Power, Test Data and Time
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25 2007.12[民96.12]
- 頁 次:
頁(附)15-(附)20
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題 名: