刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
SoC設計探索--未來晶片主流驗證技術,正規驗證等效電路檢查技術:
吳國勝 李立翔 蔣瀚霆 黃鐘揚
新電子科技
220 2004.07[民93.07]
頁85-90
TCI引用統計