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編 次:
3
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- 書刊名:
- 卷 期:
28 1998.02[民87.02]
- 頁 次:
頁81-82
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
186=306 2001.06[民90.06]
- 頁 次:
頁21-24
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題 名:
High Precision Aspheric Surface Testing Utilizing a Birefringent Crystal:以雙折射晶體作超精密非球面元件測試
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:2 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁93-98
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
100:5 2001.05[民90.05]
- 頁 次:
頁352-354
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題 名:
光學非接觸式三次元掃描量測探頭之研製:The Implementation of an Optical Noncontact Coordinate Measurement Scanning Probe
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:1 1997.02[民86.02]
- 頁 次:
頁15-20
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
140=260 1997.08[民86.08]
- 頁 次:
頁70-78
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:1 1996.01[民85.01]
- 頁 次:
頁31-35
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:1 1996.01[民85.01]
- 頁 次:
頁37-45
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題 名:
三維輪廓非接觸式掃描量測技術之研究:A Study of Three Dimensional Profile Non-Contact Scanning Measurement
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:6 民85.11-12
- 頁 次:
頁311-321
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:5=262 1997.05[民86.05]
- 頁 次:
頁210-218
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題 名:
以陣列式電射作高速三維輪廓量測:High Speed 3-D Profilometry Utilizing Laser Diode Array
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:3 2002.09[民91.09]
- 頁 次:
頁331-337
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題 名:
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題 名:
非接觸式三維輪廓量測空間映射函數演算法:A Novel Coordinate Mapping Algorithm for 3-D Profile Non-contact Measurement
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:3 2003.09[民92.09]
- 頁 次:
頁181-187
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
101:12 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁835-840
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題 名:
An Object-Based Approach for Bare PCB Inspection:一種建構於物件的印刷電路板基板檢視方法
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:5 2002.10[民91.10]
- 頁 次:
頁467-473
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題 名:
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題 名:
3D Profilometry Utilizing Projection Fringe Topography:以投射條紋外型量測技術執行三維輪廓量測
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:6 2003.12[民92.12]
- 頁 次:
頁547-553
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:6=344 2002.06[民91.06]
- 頁 次:
頁445-448