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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:5 1998.09[民87.09]
- 頁 次:
頁465-472
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:1 1999.03[民88.03]
- 頁 次:
頁15-29
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28 1998.02[民87.02]
- 頁 次:
頁29-30
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18:5 2001.09[民90.09]
- 頁 次:
頁31-38
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:3 1996.09[民85.09]
- 頁 次:
頁19-29
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:1 1996.03[民85.03]
- 頁 次:
頁43-57
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
49 2000.07[民89.07]
- 頁 次:
頁34-37
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:1 2002.05[民91.05]
- 頁 次:
頁47-55
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:3 2002.05[民91.05]
- 頁 次:
頁1-6
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:3 2002.05[民91.05]
- 頁 次:
頁26-30
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3:1 1995.03[民84.03]
- 頁 次:
頁1-16
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:2 1993.04[民82.04]
- 頁 次:
頁113-120
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9:1 1992.01[民81.01]
- 頁 次:
頁71-75
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
1:2 1993.09[民82.09]
- 頁 次:
頁29-38
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
1:2 1993.09[民82.09]
- 頁 次:
頁39-45
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題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9:1 2007.03[民96.03]
- 頁 次:
頁33-38
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:2 民95.03
- 頁 次:
頁166-173
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:3 2007.05[民96.05]
- 頁 次:
頁245-251