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非接觸式紅外線測溫之材料放射率驗證環境:An Evaluation Environment of Material's Emissivity Used for Non-contact Infrared Devices
陳榮泰 陳志仁 柯呈達 蔡淙宇 Chen, L. T.; Chen, C. J.; Ko, C. D.; Tsai, T. Y.;
工業材料
380 2018.08[民107.08]
頁156-164
TCI引用統計