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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
43 1995.05[民84.05]
- 頁 次:
頁77-79
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40 1994.11[民83.11]
- 頁 次:
頁51-60
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:5=358 2005.05[民94.05]
- 頁 次:
頁23-38
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:5 民93.10
- 頁 次:
頁405-408
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題 名:
光學式微/奈米表徵顯微量測術:Optical Micro-to-Nanoscale Surface Profilometry
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:2=142 2004.10[民93.10]
- 頁 次:
頁40-49
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題 名:
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題 名:
A Determination of Vertical-scan Range for White-light Interferometer:白光干涉儀縱向掃描範圍判定
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:5 民95.10
- 頁 次:
頁549-554
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題 名:
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題 名:
光學式奈米結構檢測新技術:Optical Image-based Nano-scale Dimensional Metrology
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
279 民95.06
- 頁 次:
頁69-75
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:5=382 2007.05[民96.05]
- 頁 次:
頁28-38
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:5=382 2007.05[民96.05]
- 頁 次:
頁70-77
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
111 民95.09
- 頁 次:
頁42-49