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- 題 名:
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- 卷 期:
161 2015.01[民104.01]
- 頁 次:
頁6-10
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- 題 名:
- 作 者:
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- 卷 期:
169 2013.01[民102.01]
- 頁 次:
頁9-21
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35 2013.11[民102.11]
- 頁 次:
頁21-26
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題 名:
原子力顯微鏡搭配雙傾斜疊合法量測線寬之技術研究:AFM Linewidth Measurement Employing Image Stitching Method
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35 2013.11[民102.11]
- 頁 次:
頁36-45
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
171 2016.09[民105.09]
- 頁 次:
頁33-39
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
139 2011.05[民100.05]
- 頁 次:
頁38-42
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
140 2011.07[民100.07]
- 頁 次:
頁44-48
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
136 2010.11[民99.11]
- 頁 次:
頁40-45
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
138 2011.03[民100.03]
- 頁 次:
頁19-25
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題 名:
使用XR與XPS分析二氧化鉿薄膜退火之膜層結構變化:Layer Structure Analysis of Thin HfO₂ Film by XR and XPS Technique
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27 2011.12[民100.12]
- 頁 次:
頁4-12
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
84:6 2011.12[民100.12]
- 頁 次:
頁40-47
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
132 2010.03[民99.03]
- 頁 次:
頁39-46
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
79 2010.01[民99.01]
- 頁 次:
頁60-67
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35:10=411 2009.10[民98.10]
- 頁 次:
頁72-83
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22 2009.12[民98.12]
- 頁 次:
頁19-26
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
128 2009.07[民98.07]
- 頁 次:
頁59-63
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
16 2009.04[民98.04]
- 頁 次:
頁24-33
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
126 2009.03[民98.03]
- 頁 次:
頁48-54
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- 題 名:
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- 卷 期:
29:4=162 2008.02[民97.02]
- 頁 次:
頁78-84
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
114 2007.03[民96.03]
- 頁 次:
頁48-55