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- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁1-25
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題 名:
高可靠度產品壽命預估--以發光二極體為例:A Novel Approach for the Life Forecasting of a Highly Reliable Product
- 作 者:
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- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁27-51
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題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
- 作 者:
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- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
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題 名:
Bond Portfolios Incorporating Default Risk--A Linear Programming Model:債券投資組合複式違約風險之線性規畫模式
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁69-90
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題 名:
羅吉斯迴歸在半導體製程分析上之應用:An Application of Logistic Regression Method for Semiconductor Process Analysis
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁91-105
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題 名:
品質機能展開中品質屋結構模糊量化之探討:Framework of a Fuzzy House of Quality Quantifying in the QFD
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁107-134
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題 名:
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁135-152
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題 名:
半導體製程能力分析之研究:Study of Process Capability in Semiconductor Manufacturing
- 作 者:
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- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁153-169
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題 名:
品質管制七手法電腦化現況之研究:Study of Current Situations for Computerizing Quality Control Seven Methods
- 作 者:
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- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁171-193
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