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探針卡印刷電路板電鍍銅製程關鍵參數搜尋之資料挖礦架構與實證研究:Data Mining Framework for Probe Card PCB Critical Parameters and Empirical Study for Copper Processing Technology
王俊堯 陳暎仁 簡禎富 Wang, Chun-yao; Chen, Ying-jen; Chien, Chen-fu;
品質學報
25:6 2018.12[民107.12]
頁361-379
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