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藉由應力模擬與電性量測分析機械應力對可撓式薄膜電晶體之劣化機制:Analysis of the Degradation Mechanism of Thin Film Transistor after Undergoing Mechanical Stress by Using Mechanical Stress Simulation and Electrical Measurements
陳柏瑋 張鼎張 廖柏詠 姜孝承
奈米通訊
24:2 2017.06[民106.06]
頁2-7
TCI引用統計