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題 名:
電極接面對掃描電容顯微術之影響:Influences of Electrode Junctions on Scanning Capacitance Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
206 2016.03[民105.03]
- 頁 次:
頁19-26
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題 名:
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題 名:
光電元件的近場光學檢測:Near-field Optical Characterization of Optoelectronic Devices
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30 2016.12[民105.12]
- 頁 次:
頁279-288
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38:6 2016.12[民105.12]
- 頁 次:
頁13-20
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38:6 2016.12[民105.12]
- 頁 次:
頁27-34