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題 名:
掃描微波阻抗顯微鏡:介電常數與電導率的奈米級成像:Scanning Microwave Impedance Microscope: Nanoscale Mapping of Permittivity and Conductivity
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作者:
黃壯群
李春增
楊永亮
陳彥甫
黃壯群
李春增
陳彥甫
楊永亮
楊永亮
Huang, Zhuangqun;
Drevniok, Benedict;
de Wolf, Peter;
Dixon-Warren, St. John;
Amster, Oskar;
Friedman, Stuart;
Pittenger, Bede;
Li, Chunzeng;
Yang, Yongliang;
Chen, Yen-fu;
Dixon-Warren, St. John;
de Wolf, Peter;
Amster, Oskar;
Drevniok, Benedict;
Pittenger, Bede;
Friedman, Stuart;
Yang, yongliang;
- 書刊名:
科儀新知
- 卷 期:
209 2016.12[民105.12]
- 頁 次:
頁14-28
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被引用次數:期刊(0) 博士論文(0) 專書(0) 專書論文(0)
排除自我引用:0
共同引用:0
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