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高階掃描探針顯微鏡的工業應用實例--新穎表面特性辨識技術:The Application on High Level SPM for Industrial Examples--A Novel Technology for Identification of Surface Property
高豐生 朱仁佑 Kao, F. S.; Chu, J. Y.;
工業材料
349 2016.01[民105.01]
頁75-81
TCI引用統計