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球差校正電鏡、臨場與低溫電鏡檢測技術於產業應用之研究:The Progress and Application of Advanced Electron Microscopy: Cs-corrected, In-situ and Low Temperature Transmission Electron Microscopy (TEM)
張睦東 謝承佑 陳育祥 羅聖全 Chang, M. T.; Hsieh, C. Y.; Chen, Y. H.; Lo, S. C.;
工業材料
349 2016.01[民105.01]
頁99-106
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