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退火機制對於不同通道線寬之射頻複晶矽薄膜電晶體之影響:Effects of Annealing Process on RF poly-Si TFTs with Various Channel Wire Widths
胡心卉 王凱民
奈米通訊
23:4 2016.12[民105.12]
頁15-21
TCI引用統計