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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2 2015.05[民104.05]
- 頁 次:
頁56-60
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題 名:
Effect of Improved Tracking for Atomic Force Microscope on Piezo Nonlinear Behavior:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:3 2015.05[民104.05]
- 頁 次:
頁747-761
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題 名:
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題 名:
利用複合式干涉儀技術之表面3D形貌顯微鏡:Surface Profiler with the Technique of Composite Interferometer
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
204 2015.09[民104.09]
- 頁 次:
頁24-34
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題 名:
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題 名:
High Accuracy MIR Lens Back Focal Length Measurement System:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:1 2015.02[民104.02]
- 頁 次:
頁21-26
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題 名: