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應用TRIZ理論於探針卡測試設備研發:Applying TRIZ Methodology to Develop the Probe Card Tester in Semiconductor Manufacturing
黃乾怡 詹定叡 吳珈錚 Huang, Chien-yi; Jan, Ting-jue; Wu, Chia-cheng;
International Journal of Systematic Innovation
3:3 2015.03[民104.03]
頁39-49
TCI引用統計