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歐傑電子顯微鏡與X光光電子能譜儀之表面分析特性:Surface Analysis Characterizations of Auger Electron Spectroscopy and X-Ray Photoelectron Spectroscopy
沈奕伶 Shen, Yi-ling;
真空科技
27:2 2014.06[民103.06]
頁51-58
TCI引用統計