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題 名:
寬輸入輸出動態隨機存取記憶體之內建自我測試架構設計:Built-In Self-Test (BIST) Design for Wide I/O DRAM
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
157 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁70-78
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題 名:
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題 名:
Back-end-of-line Defect Analysis for Rnv8T Nonvolatile SRAM:針對Rnv8T非揮發性靜態隨機存取記憶體於後段製程中之錯誤缺陷分析
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
160 2014.12[民103.12]
- 頁 次:
頁68-73
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題 名:
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題 名:
Cross-die BISR Design for the 3D-stacked Wide-I/O DRAM:三維堆疊Wide-I/O動態隨機存取記憶體之跨層自我修復架構設計
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
160 2014.12[民103.12]
- 頁 次:
頁85-87
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題 名: