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場感測探針顯微術的針尖修飾進展--由專利分析觀點出發:The Recent Development of Tip Modification of Field Sensitive Scanning Probe Microscopy--A Prospect from Patent Analysis
林峻霆 游明翰 陳柏荔 蘇健穎 蕭銘華 張茂男 Lin, Chun-ting; Yu, Ming-han; Chen, Po-li; Su, James; Shiao, Ming-hua; Chang, Mao-nan;
科儀新知
34:5=193 2013.04[民102.04]
頁78-89
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